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    新品晶圓表面用二氧化硅SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子的介紹

    更新時(shí)間:2022-08-11      點(diǎn)擊次數(shù):1922

    新品晶圓表面用二氧化硅SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子的介紹

                                                                          Nanosilica-with-particle-sample.jpg



     

    產(chǎn)品名稱(chēng):

    SiO2微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液

    納米級(jí)別二氧化硅

    SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

    晶圓表面用二氧化硅

     

    納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)

     

    MSP Corporation  NanoSilica™Size Standards  SiO2顆粒的濃縮水懸浮液,具有高度均勻的尺寸分布。

    這些粒徑標(biāo)準(zhǔn)目前提供的標(biāo)稱(chēng)尺寸范圍為 15  200 nm,非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測(cè)系統(tǒng)生產(chǎn)高質(zhì)量校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。

     

    雖然 MSP 23000NPT 系列和 2300G3 系列粒子沉積系統(tǒng)為表面缺陷校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)提供了結(jié)果,但較舊的 MSP 系統(tǒng)和其他制造商的系統(tǒng)也適用于納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)。

    特征

    極其均勻的尺寸分布

    我們的納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)采用獲得** SiO2合成工藝開(kāi)發(fā),其尺寸分布比市售的 PSL 球更窄。

    使用 SI 可追溯性測(cè)量的峰直徑

    允許產(chǎn)量提高和計(jì)量小組根據(jù) ISO 9000 標(biāo)準(zhǔn)和 SEMI 指南建立其檢查和缺陷審查方法的可追溯性。

    受到強(qiáng)烈 DUV 輻射時(shí)穩(wěn)定

    MSP  SiO2顆粒在暴露于 DUV 輻射時(shí)不會(huì)降解,這與 PSL 球體不同,PSL 球體的尺寸會(huì)減小。

    易于使用

    NanoSilica 顆粒懸浮液在滴管瓶中提供,以便在您的應(yīng)用中混合具有適當(dāng)數(shù)量濃度的懸浮液時(shí)使用方便。

    高粒子濃度

    一些應(yīng)用需要高濃度。 MSP 的顆粒濃度是業(yè)內(nèi)最高的之一。

     

    輕松辨別模態(tài)(峰值)直徑

    避免由于平均和峰值直徑值之間的差異而導(dǎo)致的差異

    制備適用于效率相對(duì)較高或較低的氣溶膠產(chǎn)生裝置的稀釋?xiě)腋∫?/span>

    為***的檢測(cè)工具創(chuàng)建持久的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

    消耗更少的材料;存錢(qián)

    隨附校準(zhǔn)和可追溯性證書(shū)以及帶有處理和處置說(shuō)明的安全數(shù)據(jù)表 (SDS)

     

     

    型號(hào)

     

    目錄編號(hào)

    標(biāo)稱(chēng)粒徑 [nm]

    認(rèn)證1峰值直徑 [nm]

    大約

    Size Dist. Width, RFWHM2

     

    1044

    NS-0015A

    15

    14-16

    13%

    1046

    NS-0018A

    18

    17-19

    12%

    1047

    NS-0020A

    20

    19-21

    11%

    1048

    NS-0024A

    24

    23-25

    10%

    1075

    NS-0027A

    27

    26-28

    9%

    1049

    NS-0030A

    30

    29-31

    8%

    1079

    NS-0032A

    32

    31-33

    7%

    1062

    NS-0035A

    35

    34-36

    7%

    1076

    NS-0037A

    37

    36-38

    6%

    1051

    NS-0040A

    40

    39-41

    6%

    1063

    NS-0045A

    45

    44-46

    5%

    1052

    NS-0050A

    50

    49-51

    5%

    1077

    NS-0055A

    55

    53-57

    5%

    1053

    NS-0060A

    60

    58-62

    4%

    1067

    NS-0064A

    64

    62-66

    4%

    1054

    NS-0070A

    70

    68-72

    4%

    1068

    NS-0074A

    74

    72-76

    4%

    1055

    NS-0080A

    80

    78-82

    4%

    1069

    NS-0084A

    84

    82-86

    4%

    1057

    NS-0090A

    90

    88-92

    4%

    1070

    NS-0094A

    94

    92-96

    4%

    1058

    NS-0100A

    100

    98-102

    4%

    1071

    NS-0104A

    104

    102-106

    4%

    1059

    NS-0125A

    125

    120-130

    4%

    1060

    NS-0150A

    150

    145-155

    4%

    1061

    NS-0200A

    200

    190-210

    4%

    1給定目錄號(hào)的認(rèn)證直徑將在規(guī)定范圍內(nèi)提供。

    2相對(duì)半高寬(半高全寬); FWHM 除以模態(tài)直徑。

     

    規(guī)格

    粒子組成

    無(wú)定形SiO2

    粒子密度

    1.9 /3

    折射率

    633納米時(shí)為1.41

    體積

    專(zhuān)注

    每毫升 1013 1015顆粒

    截止日期

    ≥ 24 個(gè)

     

    添加劑

    乙醇(按質(zhì)量計(jì) 5-20%

    有機(jī)穩(wěn)定劑(<0.1% 質(zhì)量

     

    儲(chǔ)存和處理

    在室溫下儲(chǔ)存(參見(jiàn)校準(zhǔn)和可追溯性證書(shū)

    更多詳情。

     

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    NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液,微粒子尺寸從18nm200nm都可選擇,是市面上***、高質(zhì)量的校正標(biāo)準(zhǔn),適用于最新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。

    ***的半導(dǎo)體檢查技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到小于30nm,以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即可做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正,但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷,當(dāng)UV光重復(fù)打在PSL球形化粒子上,將影響到PSL球形化粒子的質(zhì)量由于SiO2微粒子在DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量,因此SiO2微粒子是不錯(cuò)的替代產(chǎn)品。

    NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是使用有**SiO2合成技術(shù),可以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布,從目前最小的微粒子尺寸來(lái)看,NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是尺寸最均勻,適合做尺寸大小峰值的量測(cè)的工具。

    NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是MSP Corporation透過(guò)National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標(biāo)準(zhǔn)單位的產(chǎn)品,加上ISO 9000SEMI的認(rèn)證,讓良率提升及表面檢查和缺陷評(píng)估有所依據(jù)。

    NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液使用15-mL滴定,讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標(biāo)皆標(biāo)示產(chǎn)品編號(hào)、生產(chǎn)編號(hào)、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限,而且提供NIST-traceable證明書(shū)與Material Safety Data Sheet (MSDS)說(shuō)明書(shū)。

    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
    尺寸大小分布均勻
    •NIST traceability 的尺寸大小
    •DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量
    高濃縮度微粒子懸浮溶液

    產(chǎn)品效益
    易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類(lèi)分析儀器偵測(cè)與量測(cè)尺寸峰值
    可避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
    適合氣膠產(chǎn)生設(shè)備使用
    提供耐久校正標(biāo)準(zhǔn)給先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備使用
    省錢(qián)而且耗用量少

     

     

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